基于EDA技术的电子系统多目标可靠性容差设计方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010521026.2
IPC分类号：G06F17/50
申请日期：
2010-10-27
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	基于EDA技术的电子系统多目标可靠性容差设计方法
申请号	CN201010521026.2	申请日期	2010-10-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-03-09	公开/公告号	CN101984441A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	翟国富;周月阁;邵雪瑾;谭榕容;叶雪荣;李享;胡方
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种基于EDA技术的电子系统多目标可靠性容差设计方法。步骤包括：建立电子系统的Pspice仿真模型；根据电子系统所处的环境条件建立关键元器件可靠性退化模型；根据系统的可靠性指标或根据元器件实际所受应力情况来确定其约束条件；对目标函数进行灵敏度分析，找出影响目标函数的灵敏元器件；通过多元线性回归分析建立目标函数与参数容差之间的回归方程，找到所有满足特性指标的容差组合；建立基于质量损失的多目标容差优化函数。本发明通过对灵敏元件进行容差控制，减小因参数和噪声偏差导致的元器件应力的波动，在不改变系统参数及结构的情况下提高系统内部每个元器件的寿命，进而提高电子系统整体的可靠性，延长使用寿命。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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