大气颗粒物测量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020160130.9
IPC分类号：G01N15/06;G01N5/00;G01N1/24
申请日期：
2010-04-15
申请人：
武汉市天虹仪表有限责任公司

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著录项信息

专利名称	大气颗粒物测量仪
申请号	CN201020160130.9	申请日期	2010-04-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/06 测试悬浮颗粒的浓度（G01N 15/04，G01N 15/10优先；用称重法入G01N 5/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;6;;;G;0;1;N;5;/;0;0;;;G;0;1;N;1;/;2;4查看分类表>
申请人	武汉市天虹仪表有限责任公司	申请人地址	湖北省武汉市洪山区雄楚大街939号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉市天虹仪表有限责任公司	当前权利人	武汉市天虹仪表有限责任公司
发明人	李虹杰;李金平;陈建新;张培生
代理机构	北京汇泽知识产权代理有限公司	代理人	徐乐慧

摘要

本实用新型公开了一种大气颗粒物测量仪，其包括有用以采集气体的颗粒物切割分流部分、用以确定所采集的颗粒物质量及浓度的质量检测部分、至少两路控制采样气体流量的流量检测及控制部分，以及采样泵，颗粒物切割分流部分与质量检测部分连接，质量检测部分通过其中一路流量检测与控制部分连接至采样泵，颗粒物切割分流部分还通过其余路流量检测与控制部分直接连接至采样泵。借由本实用新型的颗粒物测量仪，可以实现自动监测及精确检测大气中颗粒物的浓度，同时可以实现成本低的效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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