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一种集成电路装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410446096.4
  • IPC分类号:H01L27/115;G11C16/04;H01L21/28;H01L29/423;H01L29/51
  • 申请日期:
    2010-04-20
  • 申请人:
    旺宏电子股份有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路装置
申请号CN201410446096.4申请日期2010-04-20
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2015-02-04公开/公告号CN104332470A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/115
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IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;;;G;1;1;C;1;6;/;0;4;;;H;0;1;L;2;1;/;2;8;;;H;0;1;L;2;9;/;4;2;3;;;H;0;1;L;2;9;/;5;1查看分类表>
申请人旺宏电子股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人旺宏电子股份有限公司当前权利人旺宏电子股份有限公司
发明人吕函庭
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人任岩
摘要
本发明公开了一种集成电路装置,其包括一存储器阵列,该存储器阵列包含多条位线与,多条参考线,多条存取栅极字符线,及多条存储栅极字符线,所述存储单元包含各自的存取晶体管及存储晶体管,该存取晶体管具有存取栅极,而该存储晶体管具有存储栅极,存取晶体管与存储晶体管两者串联安排介于对应的位线与该多条参考线之一之间。该存储晶体管至少一者包含一半导体主体,包含一具有一通道表面的通道,以及一介电叠层位于该存储栅极与该通道表面之间。该介电叠层包含一隧穿介电层与该存储栅极和该通道表面之一连接,该介电叠层也包含一电荷捕捉介电层于该隧穿介电层之上,及一阻挡介电层。

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