测温成像系统及其测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010261217.X
IPC分类号：G01J5/08;G01J5/06
申请日期：
2010-08-24
申请人：
卢家金

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测温成像系统及其测量方法
申请号	CN201010261217.X	申请日期	2010-08-24
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2011-01-12	公开/公告号	CN101943604A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/02 零部件 G01J5/08 光学特征	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;8;;;G;0;1;J;5;/;0;6查看分类表>
申请人	卢家金	申请人地址	四川省成都市龙泉驿区成龙大道359号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	卢家金	当前权利人	卢家金
发明人	卢家金
代理机构	成都虹桥专利事务所	代理人	蒲敏

摘要

本发明提供了一种低成本的测温成像系统，避免了多个成像元件带来的同步差问题。测温成像系统，沿光路包括光学镜头组、分光棱镜及反射镜面组、成像元件、信号处理器，在所述成像元件前还设置有滤光片组，所述滤光片组包括至少两组滤光片，所述滤光片的组数比经过分光棱镜及反射镜面组后的光信号的组数少一组，所述成像元件是单片单色CCD或CMOS成像元件。本发明基于对物体的热源辐射的非接触式的系统及方法，可对多个信号进行比较从而侦测出物体的测温边界，利用多波段热源辐射温度算法以及系统特性对被测物体表面温度进行计算，同时还可将被测物体表面的温度场进行二维表征。本发明可以方便应用于各类中高温领域。

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