一种程序测试方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110416225.5
IPC分类号：G06F11/36
申请日期：
2021-04-19
申请人：
北京京东拓先科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种程序测试方法和装置
申请号	CN202110416225.5	申请日期	2021-04-19
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-06	公开/公告号	CN113076255A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/36 通过软件的测试或调试防止错误〔7〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人	北京京东拓先科技有限公司	申请人地址	北京市北京经济技术开发区科创十一街18号院1号楼7层701室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京京东拓先科技有限公司	当前权利人	北京京东拓先科技有限公司
发明人	牛金亮
代理机构	北京德琦知识产权代理有限公司	代理人	杜志敏;宋志强

摘要

本申请提供了一种程序测试方法和装置，所述方法包括：获取第N次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集MN；根据第N+1次对程序修改的语句的类型，以及MN确定第N+1次修改后的程序对应的漏测概率测试用例集MN+1；获取MN+1中漏测概率大于预设阈值的测试用例组成回归测试用例集；使用所述回归测试用例集对第N+1次修改后的程序进行测试；其中，漏测概率测试用例集包括测试用例，以及测试用例对应的漏测概率。该方法能够减少测试时间，提高测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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