一种锡酸镉金相试样及其制备方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110273640.X
IPC分类号：G01N1/28;G01N1/32
申请日期：
2021-03-12
申请人：
先导薄膜材料（广东）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种锡酸镉金相试样及其制备方法
申请号	CN202110273640.X	申请日期	2021-03-12
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-07-09	公开/公告号	CN113092199A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;1;/;3;2查看分类表>
申请人	先导薄膜材料（广东）有限公司	申请人地址	广东省清远市高新区百嘉工业园27-9号A区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	先导薄膜材料（广东）有限公司	当前权利人	先导薄膜材料（广东）有限公司
发明人	周荣艳;余飞;文崇斌;吴彩红
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	颜希文

摘要

本发明公开了一种锡酸镉金相试样及其制备方法，属于工业材料制备领域。本发明所述锡酸镉金相试样的制备方法中，对锡酸镉试样经特定打磨及机械抛光处理，可有效避免传统打磨过程中出现斜面，进而导致金相在观察时出现模糊不清的缺陷；所述金相试样经后续表面化学腐蚀处理后，可在显微观察下清晰完整地观测到显微组织，样品上无明显划痕、疵点或凹坑缺陷；该方法具有操作步骤简单、成本低及耗时短的优点，在评价锡酸镉靶材晶粒情况及性能研究方面具有实用意义。本发明还公开了所述锡酸镉金相试样的制备方法得到的锡酸镉金相试样，该产品表面平整光滑无瑕疵，在显微观察下微观组织清晰，可实现对其晶粒大小及均匀性的有效评价。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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