一种LED寿命测试系统及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210055631.4
IPC分类号：G01R31/44;G01K7/02
申请日期：
2012-03-05
申请人：
深圳市迈昂科技有限公司;常州市产品质量监督检验所

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著录项信息

专利名称	一种LED寿命测试系统及其测试方法
申请号	CN201210055631.4	申请日期	2012-03-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-18	公开/公告号	CN102590763A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/38 （转入H01T 13/60） G01R31/44 采用核磁共振〔NMR〕（G01R33/24，G01R33/62优先）〔5〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;4;4;;;G;0;1;K;7;/;0;2查看分类表>
申请人	深圳市迈昂科技有限公司;常州市产品质量监督检验所	申请人地址	江苏省常州市天宁兰陵北路520号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市迈昂科技有限公司	当前权利人	深圳市迈昂科技有限公司
发明人	施朝阳;陈云明;邓恒波
代理机构	北京英特普罗知识产权代理有限公司	代理人	齐永红;郭少晶

摘要

本发明公开了一种LED寿命测试系统，包括致冷器、铝基板、冷热双区温度箱和积分球，前者的电致冷板和安装盘固定安装于散热器上，使电致冷板镶嵌于安装盘的开口中；铝基板固定于电致冷板的表面上；冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷、热箱，隔热板和积分球上均设置有用于安装致冷器的安装孔位，在致冷器分别安装于温度箱和积分球安装孔位上时，散热器分别置于冷箱和积分球外部，而铝基板分别置于热箱和积分球的内部。本发明的致冷器可在不拆卸LED的情况下整体移动，极大地方便了LED寿命试验；另外，通过将铝基板接线焊点的引出线连接到开关切换电路，便可单独点亮每颗LED，从而达到单独测试每一颗LED光色电参数的目的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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