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一种发光二极管的外延片及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201811428423.8
  • IPC分类号:H01L33/14;H01L33/32;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/00
  • 申请日期:
    2018-11-27
  • 申请人:
    华灿光电(浙江)有限公司
著录项信息
专利名称一种发光二极管的外延片及其制备方法
申请号CN201811428423.8申请日期2018-11-27
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2019-02-19公开/公告号CN109360879A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L33/14IPC分类号H;0;1;L;3;3;/;1;4;;;H;0;1;L;3;3;/;3;2;;;H;0;1;L;3;3;/;0;6;;;H;0;1;L;3;3;/;1;2;;;H;0;1;L;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人华灿光电(浙江)有限公司申请人地址
浙江省金华市义乌市苏溪镇苏福路233号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华灿光电(浙江)有限公司当前权利人华灿光电(浙江)有限公司
发明人丁杰;秦双娇;胡任浩;周飚;胡加辉
代理机构北京三高永信知识产权代理有限责任公司代理人徐立
摘要
本发明公开了一种发光二极管的外延片及其制备方法,属于发光二极管制造领域。N型GaN层与多量子阱层之间插入了AlInGaN层,AlInGaN层较高的势垒可以起到阻挡电子的作用,减慢电子的迁移速率,给空穴一定的迁移时间,使得空穴在深入多量子阱层之后,才会与电子相遇并复合,多量子阱中的空穴的浓度提高,多量子阱层中能够与电子进行复合的空穴数量增多,发光二极管的发光效率提高。并且AlInGaN层与N型GaN之间形成压应力,AlInGaN层与型GaN之间形成的压应力会减小多量子阱层生长时产生的压电极化,减小多量子阱内的内建电场,有利于空穴的注入,提高了LED的发光效率。

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