测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201480050509.5
IPC分类号：G01B21/04;G01B5/012;G01B7/012
申请日期：
2014-09-15
申请人：
瑞尼斯豪公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测量方法
申请号	CN201480050509.5	申请日期	2014-09-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-27	公开/公告号	CN105531563A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/04 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;4;;;G;0;1;B;5;/;0;1;2;;;G;0;1;B;7;/;0;1;2查看分类表>
申请人	瑞尼斯豪公司	申请人地址	英国英格兰变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	瑞尼斯豪公司	当前权利人	瑞尼斯豪公司
发明人	戴维·罗伯茨·麦克默特里;德里克·马歇尔
代理机构	北京柏杉松知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	谢攀;刘继富

摘要

描述了一种利用诸如机床的坐标定位设备来测量物体的方法。该方法包括以接触触发模式操作该坐标定位设备以测量物体的表面上的一个或多个接触触发测量点(50；100；118)的位置的步骤。该坐标定位设备还被以扫描模式操作，以测量沿着物体的表面上的扫描路径的多个扫描测量点(52)的位置，该扫描模式的测量利用具有接触物体的触针(12)的扫描探头(4)来获得。然后计算出至少一个校正(Δi；V，R；Δr)，该至少一个校正描述接触触发模式的测量与扫描模式的测量之差。这样，利用接触触发测量来校正扫描测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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