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温度测试方法与应用其的温度测试系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200810182073.1
  • IPC分类号:H04W24/00
  • 申请日期:
    2008-11-28
  • 申请人:
    英业达股份有限公司
著录项信息
专利名称温度测试方法与应用其的温度测试系统
申请号CN200810182073.1申请日期2008-11-28
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2010-06-23公开/公告号CN101754238A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04W24/00IPC分类号H;0;4;W;2;4;/;0;0查看分类表>
申请人英业达股份有限公司申请人地址
开曼群岛乔治市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人智谷控股有限公司当前权利人智谷控股有限公司
发明人郑传楷
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人梁挥
摘要
本发明是一种温度测试方法,包括下列步骤。于可携式电子装置的壳体表面上决定多个温度测量位置。从可携式电子装置的多个功能中选出两组测试功能,各组测试功能包括至少部分的功能。分别于两测试时段中启动此可携式电子装置的两组测试功能。测量启动各组测试功能后的温度测量位置的温度,并将测量结果储存为对应的两组温度数值。分别依据此两组温度数值判断两组测试功能是否符合一预设条件。若此两组测试功能皆符合此预设条件,则判断此两组测试功能是否具有相同的至少一个功能。若是,则判定相同的此至少一个这些功能是异常。

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