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一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201610716409.2
  • IPC分类号:G01N21/95;B08B3/02;B24B37/04
  • 申请日期:
    2016-08-24
  • 申请人:
    镇江荣德新能源科技有限公司
著录项信息
专利名称一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置
申请号CN201610716409.2申请日期2016-08-24
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2016-11-16公开/公告号CN106124525A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/95IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;9;5;;;B;0;8;B;3;/;0;2;;;B;2;4;B;3;7;/;0;4查看分类表>
申请人镇江荣德新能源科技有限公司申请人地址
江苏省镇江市扬中市经济开发区港隆路998号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人镇江荣德新能源科技有限公司当前权利人镇江荣德新能源科技有限公司
发明人张涛
代理机构南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)代理人杨晓玲
摘要
本发明公开了一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置,包括粗磨机、精磨设备、清洗干燥装置、红外探测装置及带轮机;其中,所述带轮机设置有传送履带,传送履带用于放置硅块;传送履带的侧面沿着传送履带的运行方向依次设置有粗磨机、精磨设备、清洗干燥装置及红外探测装置;所述红外探测装置包括两个机械臂、红外光源、红外摄像头以及计算机存储设备,其中红外光源、红外摄像头相对设置在传送履带的两侧,红外摄像头通过数据线连接到所述计算机存储设备上;两个机械臂用于夹持住硅块的两端,通过伺服电机控制两个机械臂转动。本发明节省人工,操作简单,提高了检测效率,减少了晶砖划伤、崩边的可能,增强了硅块杂质检测的清晰度。

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