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移动终端软故障测试方法和系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110238546.0
  • IPC分类号:H04M1/24
  • 申请日期:
    2021-03-04
  • 申请人:
    中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
著录项信息
专利名称移动终端软故障测试方法和系统
申请号CN202110238546.0申请日期2021-03-04
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-07-16公开/公告号CN113132521A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04M1/24IPC分类号H;0;4;M;1;/;2;4查看分类表>
申请人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请人地址
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))当前权利人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
发明人雷志锋;张战刚;黄云;彭超;何玉娟;肖庆中
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人缪成珠
摘要
本发明涉及辐射效应评估技术领域,公开了一种移动终端软故障测试方法和系统,包括使得待测移动终端处于测试模式之下;使用中子束流对所述待测移动终端进行辐照测试;控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况;根据所述错误情况区分不同的软故障类型。使用中子束流模拟真实环境中大气中子对待测移动终端的辐照。观察并统计待测移动终端在不同运行模式下的错误情况,并基于待测移动终端的错误情况区分不同的软故障类型。通过高通量的中子源对待测移动终端进行辐照试验,快速激发待测移动终端中可能存在的软故障类型,向产品研发人员提供有效数据支撑。

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