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一种具有侧出气孔的功率器件高温高压测试用探针卡

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110032439.2
  • IPC分类号:G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26;G01R35/00
  • 申请日期:
    2020-07-01
  • 申请人:
    强一半导体(苏州)有限公司
著录项信息
专利名称一种具有侧出气孔的功率器件高温高压测试用探针卡
申请号CN202110032439.2申请日期2020-07-01
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-04-09公开/公告号CN112630480A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/067IPC分类号G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人强一半导体(苏州)有限公司申请人地址
江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人强一半导体(苏州)有限公司当前权利人强一半导体(苏州)有限公司
发明人赵梁玉;王艾琳;王兴刚;周明
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明一种具有侧出气孔的功率器件高温高压测试用探针卡属于半导体器件测试技术领域;该探针卡从上到下依次设置进气系统、PCB板、转接层、导引板和探针;进气系统底部具有多个下出气孔和侧出气孔,PCB板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第一通孔,转接层上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第二通孔,导引板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第三通孔,下出气孔、第一通孔、第二通孔和第三通孔同轴设置,从下出气孔喷射出的高温高压气体,依次经过第一通孔、第二通孔和第三通孔后,吹入导引板与被测晶圆之间;本发明能够同时抑制高电压环境下探针之间非正常放电和高温度环境下探针卡翘曲变形和探针位置漂移。

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