镜面/类镜面物体的缺陷检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201910261584.0
IPC分类号：G01N21/956
申请日期：
2019-04-02
申请人：
易思维（杭州）科技有限公司

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著录项信息

专利名称	镜面/类镜面物体的缺陷检测装置
申请号	CN201910261584.0	申请日期	2019-04-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-06-25	公开/公告号	CN109932371A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6查看分类表>
申请人	易思维（杭州）科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	易思维（杭州）科技有限公司	当前权利人	易思维（杭州）科技有限公司
发明人	孙博;郭磊
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种镜面/类镜面物体的缺陷检测装置，包括处理器、显示器、显示装置和安装在所述显示器周围的多部相机；所述显示器受控于处理器，所述多部相机中相邻两部相机构成双目视觉系统；所述处理器计算多幅所述正弦相移灰度图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v)，和所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ；对图像上所有点(u,v)，计算W＝|Z(u,v)‑μ|，当W≤mσ时，点(u,v)无缺陷，否则，则标记为缺陷点；m为依据误差范围所确定的系数；所述显示装置与处理器之间通讯，能具体显示缺陷点的位置；本发明通过相机获得正弦条纹图像，进而计算调制信息质量图，通过分析调制信息质量图，能够有效检出高度仅为微米级的缺漆涂层缺陷，成本较低，检测精度可控。

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