确定解剖细节的壁厚度的方法及对应的磁共振成像系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201580014661.2
IPC分类号：A61B5/055;A61B5/107;G06T7/60
申请日期：
2015-03-09
申请人：
皇家飞利浦有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	确定解剖细节的壁厚度的方法及对应的磁共振成像系统
申请号	CN201580014661.2	申请日期	2015-03-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-11-09	公开/公告号	CN106102577A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B5/055 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B5/00 用于诊断目的的测量（放射诊断入A61B6/00；超声波、声波或次声波诊断入A61B8/00）；人的辨识 A61B5/05 用电流或磁场的诊断测量（A61B 5/02，A61B 5/04，A61B 5/11优先）〔5〕 A61B5/055 包含电磁共振〔EMR〕或核磁共振〔NMR〕的，例如磁共振成像〔5〕	IPC分类号	A;6;1;B;5;/;0;5;5;;;A;6;1;B;5;/;1;0;7;;;G;0;6;T;7;/;6;0查看分类表>
申请人	皇家飞利浦有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	皇家飞利浦有限公司	当前权利人	皇家飞利浦有限公司
发明人	T·R·福格特;S·魏斯;S·克吕格尔
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	李光颖;王英

摘要

一种用于通过磁共振成像来确定感兴趣对象的解剖细节的壁厚度的方法，包括以下步骤：定义表面表示上的第一位置和第二位置；生成感兴趣线结构；针对多个位置中的每个位置，确定法线方向；确定平均法线方向；确定平均成像平面；确定表示所确定的法线方向的角偏离的量度；基于所确定的量度，确定成像平面；确定所确定的法线方向与所述成像平面的偏离；采集针对所有成像平面的磁共振图像；并且根据在具有与具体位置处的所述法线方向的最低角偏离的该成像平面中采集的所述磁共振图像，确定所述具体位置处的所述壁厚度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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