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用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310737270.6
  • IPC分类号:G01R31/3163
  • 申请日期:
    2013-12-27
  • 申请人:
    杭州长川科技有限公司
著录项信息
专利名称用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法
申请号CN201310737270.6申请日期2013-12-27
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-08-20公开/公告号CN103995226A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/3163IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;3;1;6;3查看分类表>
申请人杭州长川科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市西湖区西园四路2号4幢1-2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州长川科技股份有限公司当前权利人杭州长川科技股份有限公司
发明人钟锋浩;赵轶;赵秀龙
代理机构杭州杭诚专利事务所有限公司代理人尉伟敏
摘要
本发明公开了一种用于提高模拟集成电路测试系统精度的方法,本发明采用标准万用表读取的数据和理论数据进行比较计算,获得各量程的修正参数;在用到该量程时,使用修正参数对输出的电流及电压进行修正,达到提高系统的驱动精度及测试精度的目的。当用户改变电源模块时,不会造成计算机中存储的修正参数与电源模块中的修正参数不匹配的问题。本发明具有用户可以按需随意改变电源模块,控制器会调用EEPROM中存储的修正参数对计算机中的数据库信息及时进行更新;无需重新校正数据,保证了系统精度的稳定性和一致性的特点。

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