主机板电气测试结果数据分析方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010156289.8
IPC分类号：G01R31/02
申请日期：
2010-04-27
申请人：
佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	主机板电气测试结果数据分析方法
申请号	CN201010156289.8	申请日期	2010-04-27
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-09	公开/公告号	CN102236058A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2查看分类表>
申请人	佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司	申请人地址	广东省佛山市顺德区伦教街道顺达路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司	当前权利人	佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
发明人	颜晓华
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，其中，该方法主要包括以下步骤：主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。本发明自动对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，不仅准确度得到保证，而且操作简便，有效节约了时间及人力。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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