随机数发生方法和半导体集成电路器件

发明专利无效专利

申请号：
CN200480041636.5
IPC分类号：G06F7/58
申请日期：
2004-02-12
申请人：
日立超大规模集成电路系统株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	随机数发生方法和半导体集成电路器件
申请号	CN200480041636.5	申请日期	2004-02-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-02-28	公开/公告号	CN1922570
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F7/58 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F7/54 （转入G06F 7/52 至 G06F 7/537） G06F7/58 随机数或伪随机数发生器〔3〕	IPC分类号	G;0;6;F;7;/;5;8查看分类表>
申请人	日立超大规模集成电路系统株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日立超大规模集成电路系统株式会社	当前权利人	日立超大规模集成电路系统株式会社
发明人	村中雅也
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	季向冈

摘要

一种半导体集成电路器件，包括多个单位电路和信号变化检测电路，所述单位电路包括：以彼此相同的制造过程作为相同形态形成的第一和第二逻辑电路、将叠加在所述第一逻辑电路和第二逻辑电路的阈值电压的差电压上的噪声放大并形成2值信号的放大电路；所述信号变化检测电路，响应从所述多个单位电路输出的多个2值信号中的任意一个信号的变化，形成输出信号，该器件将多个从所述信号变化检测电路输出的2值信号进行组合发生随机数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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