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磁瓦外观缺陷检测装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202021780419.0
  • IPC分类号:B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
  • 申请日期:
    2020-08-24
  • 申请人:
    上海岳展精密科技有限公司
著录项信息
专利名称磁瓦外观缺陷检测装置
申请号CN202021780419.0申请日期2020-08-24
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B07C5/00IPC分类号B;0;7;C;5;/;0;0;;;B;0;7;C;5;/;0;2;;;B;0;7;C;5;/;3;6查看分类表>
申请人上海岳展精密科技有限公司申请人地址
上海市松江区大港工业区中德路618弄10号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海岳展精密科技有限公司当前权利人上海岳展精密科技有限公司
发明人岳来鹏;刘鑫
代理机构上海市嘉华律师事务所代理人黄琮;夏烨
摘要
本实用新型公开了磁瓦外观缺陷检测装置,属于磁瓦检测机技术领域,其包括振动整料机构,所述振动整料机构上设置有输送机构,所述输送机构上设置有磁瓦A面检测机构、磁瓦E面检测机构和磁瓦F面检测机构。该磁瓦外观缺陷检测装置,通过振动整料机构对落下的磁瓦本体进行调整方位,实现对磁瓦本体三个面的检测,在翻料机构、输送带机构、转盘机构和导向轮机构的作用下,调整磁瓦本体各个面的位置并对其剩余的面进行检测,这样实现自动全方位检测磁瓦本体外观表面,并判定磁瓦本体表面是否合格,且本装置将已检测的磁瓦本体进行合格与否分类并从不同的出料输送排出,这大大的节省了人力,提高了工作效率。

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