一种用圆光栅及自准直仪测量主轴回转误差的装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810601644.4
IPC分类号：G01B11/27;G01B11/26
申请日期：
2018-06-06
申请人：
大连理工大学

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著录项信息

专利名称	一种用圆光栅及自准直仪测量主轴回转误差的装置及方法
申请号	CN201810601644.4	申请日期	2018-06-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-11	公开/公告号	CN108981614A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/27 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/26 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直 G01B11/27 用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;7;;;G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市甘井子区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	娄志峰;郝秀朋;范光照
代理机构	大连理工大学专利中心	代理人	陈玲玉

摘要

本发明属于精密机械误差领域，公开了一种用圆光栅及自准直仪测量主轴回转误差的装置及方法。该测量装置由安装在主轴上的一套双读数头圆光栅、贴在轴底端的平面镜及一套自制自准直仪组成。当主轴存在径向回转误差时，结合圆光栅测得的径向运动误差，及自准直仪测得的偏摆误差，便可计算出轴上任意一点的径向回转误差，进而分析轴在旋转过程中的运动状态。采用本发明的结构可消除主轴圆度、表面粗糙度及主轴所受负载的变化对测量结果的影响。同时，本装置亦可实现主轴回转角度的高精度定位。

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