用于复合材料层合板缺陷定位的超声导波检测技术

发明专利无效专利

申请号：
CN200910148332.3
IPC分类号：G01N29/07;G01S5/28
申请日期：
2009-06-16
申请人：
北京理工大学

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著录项信息

专利名称	用于复合材料层合板缺陷定位的超声导波检测技术
申请号	CN200910148332.3	申请日期	2009-06-16
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-11-04	公开/公告号	CN101571514
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/07 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/07 通过测量声波的传播速度或传播时间〔8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;7;;;G;0;1;S;5;/;2;8查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	徐春广;周世圆;胡勇;肖定国;许寒晖;徐圆飞;赵新玉;郝娟;孟凡武;贾玉平
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种复合材料层合板缺陷定位的无损检测方法，该方法以多探头检测的方式，准确且便利的对复合材料层合板的层间缺陷进行二维定位。该方法包括以下步骤：a.将四个传感器以一定的间隔，按正方形排列，置于复合材料层合板的表面；b.正方形型布置中的每个传感器依次作为激励传感器，与其相邻的两个传感器作为接收传感器，构成多路缺陷定位系统；c.对多组缺陷的位置信息进行聚类分析，保留有效的数据，淘汰存在明显偏差的信息；d.根据时间延迟，基于椭圆定位法，计算得到缺陷位置信息，通过求中心的平均法，进一步减小误差，对缺陷进行精确的二维定位。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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