智能掉电测试方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201310042473.3
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2013-02-04
申请人：
深圳佰维存储科技有限公司

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著录项信息

专利名称	智能掉电测试方法及系统
申请号	CN201310042473.3	申请日期	2013-02-04
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-05-22	公开/公告号	CN103116102A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳佰维存储科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳佰维存储科技股份有限公司	当前权利人	深圳佰维存储科技股份有限公司
发明人	孙日欣;卢伟;李振华;史天顺;徐江波
代理机构	深圳市博锐专利事务所	代理人	张明

摘要

本发明提供了一种智能掉电测试方法及系统，通过控制端根据参数设置及待测设备数据可控的输出驱动弱电控制模块、强电控制模块有序的掉电、上电。从而实现了全自动全智能的掉电测试，具有效率高、节省人力成本、更安全的优点，且可以实现强电类型的安全系数要求较高的测试需求。产品可满足多种设备的测试需求，降低测试成本。更可搭配实现远程操控，更加便于管理，实时监控确保测试可靠性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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