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用于确定一种或多种辐射特性的方法和设备

发明专利无效专利

申请号：
CN200780004730.7
IPC分类号：G01T1/02;G01T1/164;G01T1/36
申请日期：
2007-02-08
申请人：
埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于确定一种或多种辐射特性的方法和设备
申请号	CN200780004730.7	申请日期	2007-02-08
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-10	公开/公告号	CN101454689
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/02 剂量计（G01T 1/15优先）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;0;2;;;G;0;1;T;1;/;1;6;4;;;G;0;1;T;1;/;3;6查看分类表>
申请人	埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学	申请人地址	德国埃朗根变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学	当前权利人	埃朗根-纽伦堡弗里德里克-亚历山大大学
发明人	T·米切尔;A·科恩;G·安顿;D·尼德洛纳;M·博尼尔;M·弗欣格;J·多尔斯特
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	刘杰;刘春元

摘要

本发明涉及一种用于确定一种或多种辐射特性的设备和方法，采用了包括一个或多个检测器单元的传感器，所述一个或多个检测器单元能够计数撞击到所述传感器上的、在预定能量范围内或预定能量范围之上的所述辐射的光子数或带电粒子数。

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