一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720220510.9
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2017-03-08
申请人：
上海鑫匀源科技有限公司

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专利名称	一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置
申请号	CN201720220510.9	申请日期	2017-03-08
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	上海鑫匀源科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路2305号B幢1102室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海鑫匀源科技有限公司	当前权利人	上海鑫匀源科技有限公司
发明人	朱笑鶤;余瑶
代理机构	上海欣创专利商标事务所	代理人	杨静宇

摘要

本实用新型涉及一种基于子母板的集成电路芯片老化测试装置，该装置包括通用老化母板和多个老化子板；通用老化母板上设有多个工位，工位上安装有呈阵列布置的多个弹簧针；老化子板可安装于通用老化母板的一工位上，其正面上设有芯片安装部、并集成有外围应用电路；老化子板的背面上安装有呈阵列布置的多个金属触点，其中，多个金属触点的一部分与待测试芯片的管脚连接，另一部分与外围应用电路连接；工位上的插针与老化子板背面的金属触点相匹配、并相接触，从而将老化子板接入通用老化母板。本实用新型能够适用于多种类型的集成电路芯片进行老化试验以及老化后的性能测试，有效地节约测试成本，降低测试周期。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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