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基于粒子追踪的集成成像微单元图像并行生成方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310392012.9
  • IPC分类号:G06T15/06
  • 申请日期:
    2013-08-31
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称基于粒子追踪的集成成像微单元图像并行生成方法
申请号CN201310392012.9申请日期2013-08-31
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-12-18公开/公告号CN103456036A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T15/06IPC分类号G;0;6;T;1;5;/;0;6查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市太白南路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人王晓蕊;张启平;李凌澄;袁影;姚凯凯;张建奇;黄曦;刘德连;何国经
代理机构陕西电子工业专利中心代理人田文英;王品华
摘要
本发明公开了一种基于粒子追踪的集成成像微单元图像并行生成方法,主要用于解决现有微单元图像生成方法并行度差,速度慢的问题。其主要实现步骤是:(1)生成三维地形场景;(2)放置微透镜;(3).放置微单元图像阵列平面;(4)获得像素点编号;(5)发射追踪粒子;(6)移动追踪粒子;(7)用背景颜色替换初始发射点的颜色;(8)用表面颜色替换初始发射点的颜色;(9)判断是否存在追踪粒子;(10)继续移动追踪粒子;(11)判断像素点编号值是否等于N;(12)生成结果。本发明在保证生成微单元图像成像质量的基础上,具有并行度高、运行速度快的优点。

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