一种电迁移测试方法、装置、设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110012866.4
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-01-06
申请人：
上海燧原智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种电迁移测试方法、装置、设备及存储介质
申请号	CN202110012866.4	申请日期	2021-01-06
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-25	公开/公告号	CN112834911A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	上海燧原智能科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区业盛路188号A-522室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海燧原智能科技有限公司	当前权利人	上海燧原智能科技有限公司
发明人	尹鹏跃;张水英
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆

摘要

本发明实施例公开了一种电迁移测试方法、装置、设备及存储介质。其中，该方法包括：根据芯片中的待测试链路的仿真模型，确定待测试链路的标准电阻；根据电迁移仿真测试过程中的多组仿真测试数据确定待测试链路的失效时间计算公式；确定与待测试链路对应的多组电迁移测试条件；控制电迁移测试系统对与待测试链路对应的电迁移测试样品进行电迁移测试，得到与各组电迁移测试条件对应的测试样品失效时间；根据各组电迁移测试条件中的预期失效时间与所对应的测试样品失效时间的比对结果，确定待测试链路的电迁移测试结果。本发明实施例可以对芯片中的链路进行电迁移测试，确定芯片中各链路的整个链路结构的电迁移实际情况。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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