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基于PCB工艺的密封并联平面触发火花隙开关及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110394775.1
  • IPC分类号:H01T2/02;H01T2/00;H01T1/00;H01T21/00
  • 申请日期:
    2021-04-13
  • 申请人:
    南京理工大学
著录项信息
专利名称基于PCB工艺的密封并联平面触发火花隙开关及其制造方法
申请号CN202110394775.1申请日期2021-04-13
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-06公开/公告号CN113224645A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01T2/02IPC分类号H;0;1;T;2;/;0;2;;;H;0;1;T;2;/;0;0;;;H;0;1;T;1;/;0;0;;;H;0;1;T;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人南京理工大学申请人地址
江苏省南京市孝陵卫200号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京理工大学当前权利人南京理工大学
发明人朱朋;初青芸;杨智;汪柯;沈瑞琪;叶迎华
代理机构南京理工大学专利中心代理人张玲
摘要
本发明公开一种基于PCB工艺的密封并联平面触发火花隙开关及其制造方法。包括底层基片,中间层基片,顶层基片,PP片和焊盘;底层基片上表面和顶层基片的下表面上均设有三电极线路,中间层基片设有上下贯通的矩形腔室,PP片上设有与矩形腔室相对应的矩形缺口;中间层基片设置在底层基片和顶层基片之间,基片之间通过PP片压合;压合后中间层基片的矩形腔室,底层基片的上表面和顶层基片的下表面形成密封腔室;顶层基片上设有焊盘,压合之后的底层基片,中间层基片和顶层基片上设有贯穿的过孔。本发明并联PCB‑PTS导通气体氛围固定,使得开关在恶劣环境下具有和常规环境相似的性能,并联的设计提升了开关的作用可靠性,拓宽触发火花隙开关的应用范围。

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