一种探针对准装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201922232208.7
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2019-12-13
申请人：
武汉驿天诺科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种探针对准装置
申请号	CN201922232208.7	申请日期	2019-12-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	武汉驿天诺科技有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区东信路SBI创业街1号楼902室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉驿天诺科技有限公司	当前权利人	武汉驿天诺科技有限公司
发明人	王辉文;单娜;方学涛
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	许美红

摘要

本实用新型公开了一种探针对准装置，包括探针、过渡块和位置调节机构，所述探针固定在所述过渡块上，所述位置调节机构通过调节过渡块的位置使所述探针的针尖与目标点或者目标接触面对准。本实用新型通过间接调整固定块的位置使探针针尖端尽可能接近设定目标，以满足实际允许的公差要求；并通过给过渡块导电，从而将电流再通过探针针尖导到待老化测试的对象上。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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