测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200810305963.7
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2008-12-04
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试装置
申请号	CN200810305963.7	申请日期	2008-12-04
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-06-23	公开/公告号	CN101752013A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	江苏省南通市通州区二甲镇进东村变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南通神龙化纤绳业有限公司	当前权利人	南通神龙化纤绳业有限公司
发明人	黄发生
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种测试装置，包括一连接一待测设备的连接器及一包括至少一测试单元的测试电路，所述测试单元包括一第一输入端、一第二输入端、一第一电容、一第二电容、一第一电阻、一第二电阻、一第一输出端及一第二输出端。所述第一及第二输入端可通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连，用于接收所述待测设备输出的待测信号，所述第一及第二输出端可与一电子测试仪器相连，以通过所述电子测试仪器对所述待测信号进行测量。所述测试装置结构简单，成本较低，且实用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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