温度校正处理装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200510083554.3
IPC分类号：G01J1/42;G01J1/02
申请日期：
2005-07-11
申请人：
三洋电机株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	温度校正处理装置
申请号	CN200510083554.3	申请日期	2005-07-11
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-02-15	公开/公告号	CN1734242
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/42 采用电辐射检测器（光学或机械部件入G01J 1/04；与基准光或基准电参数作比较的入G01J 1/10）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;4;2;;;G;0;1;J;1;/;0;2查看分类表>
申请人	三洋电机株式会社	申请人地址	日本国大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三洋电机株式会社	当前权利人	三洋电机株式会社
发明人	竹井洋次;月泽正雄
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	李香兰

摘要

热电堆及热敏电阻在制造阶段，在每个产品中产生标准离差。预想内置于完成品中的热电堆及热敏电阻的特性因每个产品而异。而且，在组装阶段的组装也存在标准离差等的影响，如果保障完成品的测量精度，则存在不能廉价提供的问题。本发明提供的温度校正处理装置，具有测量相对温度差的受光部；测量上述受光部温度的温度测量电路；和在上述受光部中加上与上述每个监视区域之间的相对温度差、计算出该每个监视区域的温度、并输出计算结果的计算电路；其中在每次测量时，根据上述受光部的温度校正上述计算结果。

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