基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420462978.5
IPC分类号：G01N21/25
申请日期：
2014-08-15
申请人：
中国科学院上海技术物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统
申请号	CN201420462978.5	申请日期	2014-08-15
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;5查看分类表>
申请人	中国科学院上海技术物理研究所	申请人地址	上海市虹口区玉田路500号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海技术物理研究所	当前权利人	中国科学院上海技术物理研究所
发明人	王玘;袁小文;孙聊新;张波;陆卫
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	郭英

摘要

本专利公开了一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统，它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现：根据激光双调制工作原理，将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光，低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光，然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面，单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处，通过电机控制对样品面进行二维扫描，获得相关光学信号。本专利实现了纳米量级区域的光谱探测，有效地消除了背景反射光的干扰，可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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