硅麦克风的测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201210413849.2
IPC分类号：H04R29/00
申请日期：
2012-10-25
申请人：
上海耐普微电子有限公司;钰太科技股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	硅麦克风的测试装置
申请号	CN201210413849.2	申请日期	2012-10-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2014-05-07	公开/公告号	CN103781010A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04R29/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04R 扬声器、传声器、唱机拾音器或其他声—机电传感器；助听器；扩音系统（产生的声音和频率与电流频率无关的入G10K）〔6〕 H04R29/00 监控设备；测试设备	IPC分类号	H;0;4;R;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人	上海耐普微电子有限公司;钰太科技股份有限公司	申请人地址	上海市浦东新区张江高科技园区毕升路299弄11栋202A室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海耐普微电子有限公司,钰太科技股份有限公司	当前权利人	上海耐普微电子有限公司,钰太科技股份有限公司
发明人	叶菁华
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	高磊

摘要

本发明提供一种硅麦克风的测试装置，其中，所述硅麦克风包括：声孔及第一端口，所述测试装置至少包括：上端开口的测试腔体；位于所述测试腔体底部的发声器，用于向所述声孔提供声音信号；具有第二端口的测试单元，与所述发声器具有间隔、且至少一侧设置于所述测试腔体的内壁上，用于基于所述发声器输出的声音信号来测试所述硅麦克风的工作信息；其中，所述第二端口对应连接所述第一端口；以及与所述测试腔体上端连接的反射盖，用于将所述发生器输出的声音信号予以反射。由上可见，所述测试装置利用将反射盖来封闭所述测试腔体能够防止外界噪声对声音信号的干扰，以使所述测试装置通用于任何硅麦克风。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供