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一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510072536.5
IPC分类号：G01N21/17;G01N21/55
申请日期：
2005-05-10
申请人：
上海光谱仪器有限公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法
申请号	CN200510072536.5	申请日期	2005-05-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-15	公开/公告号	CN1746657
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/17 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;1;7;;;G;0;1;N;2;1;/;5;5查看分类表>
申请人	上海光谱仪器有限公司	申请人地址	上海市宜山路705号科技大厦4-10楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海光谱仪器有限公司	当前权利人	上海光谱仪器有限公司
发明人	陈建钢;刘志高;黄蕾;边丽
代理机构	上海申汇专利代理有限公司	代理人	俞宗耀

摘要

本发明公开了一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法，其特征在于检测器的位置和样品台均可绕样品台的圆心O点旋转，旋转的角度由微处理器CPU根据外接计算机的指令控制步进电机执行。测量时以空气作参比，记录、计算样品的反射率的绝对值。与现有技术相比，由于无多块反射镜的多次反射，使进入检测器的光能量强，仪器操作简便、高速，测量准确度高，重复性好。

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