首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，实际以国家知识产权局展示为准

一种存储芯片的测试方法以及测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201811270214.5
IPC分类号：G11C29/50;G11C29/56
申请日期：
2018-10-29
申请人：
深圳市江波龙电子股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种存储芯片的测试方法以及测试装置
申请号	CN201811270214.5	申请日期	2018-10-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-02-15	公开/公告号	CN109346121A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/50 容限测试，例如，竞争、电压或电流测试〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;0;;;G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	深圳市江波龙电子股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市江波龙电子股份有限公司	当前权利人	深圳市江波龙电子股份有限公司
发明人	李中政;钟衍徽;龙红卫
代理机构	深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	李庆波

摘要

本申请公开了一种存储芯片的测试方法以及测试装置，该存储芯片的测试方法包括：在待测存储芯片从工作状态切换至深度睡眠状态后，获取待测存储芯片的设定电特征参数；判断设定电特征参数是否满足预设条件；若是，则确定待测存储芯片满足测试要求。通过上述方式，能够快速高效的测出存在微破损的存储芯片，节约测试时间，减少生产成本，且提高后续需应用存储芯片的电子产品的良率。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供