SOT外形集成电路芯片测试分选装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610747118.X
IPC分类号：B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38;G01R31/28
申请日期：
2016-08-29
申请人：
福州派利德电子科技有限公司

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专利名称	SOT外形集成电路芯片测试分选装置
申请号	CN201610747118.X	申请日期	2016-08-29
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-02-15	公开/公告号	CN106391512A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B07C5/344 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B0 分离；混合 B07 将固体从固体中分离；分选 B07C 邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选（专门适用于特定用途的并已包含在其他类的，参看有关的类，如A43D 33/06、B23Q 7/12） B07C5/00 按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选（仅用手工的分选入B07C 7/00；用筛，过滤，筛选或用气流或适用于散装材料的其他干式分离法将固体从固体中分离入B07B；硬币的分选入G07D）〔3〕 B07C5/34 根据其他特殊性质来分选 B07C5/344 根据电或电磁性质	IPC分类号	B;0;7;C;5;/;3;4;4;;;B;0;7;C;5;/;0;2;;;B;0;7;C;5;/;3;8;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	福州派利德电子科技有限公司	申请人地址	福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	福州派利德电子科技有限公司	当前权利人	福州派利德电子科技有限公司
发明人	谢名富;吴成君
代理机构	福州元创专利商标代理有限公司	代理人	蔡学俊

摘要

本发明公开了SOT外形集成电路芯片测试分选装置，包括上料机构、测试轨道、分离器、分类存贮模块、工控机和若干测试站；测试轨道的始端与上料机构相邻，末端与分类存贮模块相邻；当装置工作时，分离器对微型芯片在测试轨道上的输送进行控制使芯片有序地到达各测试站；若干测试站在测试轨道处顺序排列，测试站设有测试夹片和芯片挡针，当到达测试站的微型芯片需进行测试时，测试夹片夹持微型芯片的引脚并对芯片进行测试，当到达测试站的微型芯片无需测试时，测试站以芯片挡针对微型芯片在各测试站处的输送进行控制；已测芯片被分类存贮模块导入与测试结果对应的芯片存贮料盒内；本发明针对微小型芯片进行优化，能高效地对微型芯片进行检测。

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