一种荧光共焦显微成像系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420211625.8
IPC分类号：G01N21/64;G01N21/01
申请日期：
2014-04-28
申请人：
江苏天宁光子科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种荧光共焦显微成像系统
申请号	CN201420211625.8	申请日期	2014-04-28
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	江苏天宁光子科技有限公司	申请人地址	江苏省扬州市广陵经济开发区科技园C3幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏天宁光子科技有限公司	当前权利人	江苏天宁光子科技有限公司
发明人	邵永红;金春平
代理机构	深圳市恒申知识产权事务所（普通合伙）	代理人	陈健

摘要

本实用新型属于三维显微成像领域，提供了一种荧光共焦显微成像系统。该系统是在现有可获取样品三维层析图像的激光光源和共焦成像光路的基础上，另外增加可得到宽场图像的宽场成像光路、宽场照明激光光源、以及面阵探测器，并增加共焦成像光路与宽场成像光路配合使用的光学器件，以实现宽场图像与三维层析图像的同时显示。该系统可首先利用宽场图像成像模式获得宽场图像，实现对样品上待观测目标的快速搜索，在锁定待观测目标后，利用三维层析图像成像模式获得待观测目标的高精度三维层析图像，并同时获得样品的宽场表面图像。相对于现有技术，解决了样品逐点扫描所带来的扫描时间长的问题，同时结构简单，降低了系统成本，有利于系统的产业化应用。

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