集成电路测试设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201911164590.0
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/3167
申请日期：
2019-11-25
申请人：
奥特润株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	集成电路测试设备
申请号	CN201911164590.0	申请日期	2019-11-25
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-02	公开/公告号	CN111220895A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;6;7查看分类表>
申请人	奥特润株式会社	申请人地址	韩国首尔变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	现代摩比斯株式会社	当前权利人	现代摩比斯株式会社
发明人	金连镐;李健;林志训;朴岷志;禹宰赫;崔允镐
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	刘梅

摘要

一种集成电路测试设备，包括：第一测试单元，被配置为在内置自测(BIST)测试模式中根据集成电路的每个内部电路的BIST进度状态来输出BIST进度状态的电流，以用于确定在集成电路的唤醒模式中每个内部电路是否正常操作；以及第一确定模块，被配置为根据由第一测试单元根据每个内部电路的BIST进度状态检测的电流，来确定每个内部电路是否处于停滞状态。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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