一种EPON中光模块长发光检测及克服方法和装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201210322004.2
IPC分类号：H04B10/08
申请日期：
2012-09-04
申请人：
深圳市共进电子股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种EPON中光模块长发光检测及克服方法和装置
申请号	CN201210322004.2	申请日期	2012-09-04
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-19	公开/公告号	CN102832996A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B10/08 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B10/08 （转到H04B10/07）	IPC分类号	H;0;4;B;1;0;/;0;8查看分类表>
申请人	深圳市共进电子股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区蛇口南海大道1019号百盈医疗器械园二楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市共进电子股份有限公司	当前权利人	深圳市共进电子股份有限公司
发明人	徐雷;刘小勇;郭小东;邓永坚
代理机构	深圳市智科友专利商标事务所	代理人	孙子才

摘要

本发明提供了一种EPON中光模块长发光检测及克服方法，该方法利用逻辑编程模块完成光模块的长发光检测，同时产生控制信号，控制光模块发送电源复位，该装置，包括光网络单元，所述的光网络单元包括光模块、光模块电源控制单元、CPU和逻辑控制单元。本发明技术方案应多数应用于带逻辑器件（FPGA或CPLD）的MDU产品中，相对于传统的模拟电路实现方法，使用逻辑编程的方法实现光模块长发光检测及发送电源关断具有节约成本、性能稳定可靠、长发光时间门限可调、长发光保护和流量无关，保护不受温度、器件参数变化等影响。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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