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低功率快擦写存储单元及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410069696.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2004-07-19
  • 申请人:
    夏普株式会社
著录项信息
专利名称低功率快擦写存储单元及方法
申请号CN200410069696.X申请日期2004-07-19
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2005-03-09公开/公告号CN1591832
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人夏普株式会社申请人地址
日本大阪市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人夏普株式会社当前权利人夏普株式会社
发明人许胜籐;大野芳睦
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人郭煜;庞立志
摘要
本发明的目的是降低快擦写存储单元的编程电压。提供了形成快擦写存储单元的方法。该方法包括:在衬底上形成第1多晶硅层的工序;通过第1多晶硅层,直至衬底中形成沟槽的工序;向沟槽中填充氧化物层的工序;在氧化物上堆积第2多晶硅层的工序。得到的结构可进行平面化。高k电介质层可堆积在第1多晶硅层上。第3多晶硅层堆积在高k电介质层上,利用光刻胶形成图形,形成快擦写存储栅极结构。形成图形过程中,露出的第2多晶硅层被蚀刻。结束除去第2多晶硅层时,检测蚀刻停止。残留下第1多晶硅层的薄层,然后利用选择性蚀刻法小心除去。可对高k电介质层形成图形,使非存储晶体管的形成成为可能。

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