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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

具有弹性探针的集成电路测试插座

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN02202154.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2002-01-24
  • 申请人:
    威盛电子股份有限公司
著录项信息
专利名称具有弹性探针的集成电路测试插座
申请号CN02202154.X申请日期2002-01-24
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人威盛电子股份有限公司申请人地址
中国台湾 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人威盛电子股份有限公司当前权利人威盛电子股份有限公司
发明人王振芳;柯文振
代理机构北京集佳专利商标事务所代理人王学强
摘要
本实用新型公开了一种具有弹性探针的集成电路测试插座,包括一插座本体及复数弹性探针。其中,该等弹性探针以阵列方式设于该插座本体上,并分别包括一插设端、一弹性部及一探测端,而该探测端向上延伸有数个呈锥状的触接角,该等触接角的顶端又分别形成有触点,且各触点皆位于一假想圆的圆周上,并使该假想圆的圆周直径小于所欲检测的集成电路的锡球直径。

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