一种基于液晶材料的计算全息图及其制作方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710006316.5
IPC分类号：G01B11/06;G03H1/08
申请日期：
2017-01-05
申请人：
北京理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于液晶材料的计算全息图及其制作方法
申请号	CN201710006316.5	申请日期	2017-01-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-06-27	公开/公告号	CN106895784A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;3;H;1;/;0;8查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	王劭溥;胡摇;郝群
代理机构	北京理工正阳知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	毛燕

摘要

本发明公开的一种基于液晶材料的计算全息图及其制作方法，属于光电检测领域。本发明公开的基于液晶材料的计算全息图，包括透过率均匀的基底和涂于基底上的液晶材料。通过光控取向技术控制液晶材料相邻条纹的液晶分子朝向不同，入射激光通过固定厚度不同折射率的液晶材料后，会产生固定的相位差。基底与液晶材料构成具有补偿入射激光固定相位差功能的计算全息图。相位差通过调节液晶材料厚度或更换液晶材料改变液晶材料折射率实现。本发明还公开所述的计算全息图的制作方法。本发明的计算全息图精度高、廉价，制作方法制作周期短、工艺简单。本发明适用于高精度激光干涉法检测光学元件面形误差，尤其适用于激光干涉法检测复杂非球面面形。

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