一种金属薄膜/非晶合金截面透射样品制备方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201810432366.4
IPC分类号：G01N1/28
申请日期：
2018-05-08
申请人：
西京学院

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著录项信息

专利名称	一种金属薄膜/非晶合金截面透射样品制备方法
申请号	CN201810432366.4	申请日期	2018-05-08
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-30	公开/公告号	CN108918211A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8查看分类表>
申请人	西京学院	申请人地址	陕西省西安市长安区西京路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西京学院	当前权利人	西京学院
发明人	孙琳琳;孟培媛;王小博;李京泽;郝波涛
代理机构	西安智大知识产权代理事务所	代理人	何会侠

摘要

一种金属薄膜/非晶合金截面透射样品制备方法，其步骤为，用金刚石切片机将金属薄膜的非晶合金样品切成样品条，用环氧树脂胶对接粘合，然后固化；在加热台上放置研磨台后与带孔的φ3mm铜环通过环氧树脂胶粘连后打磨，最后放在带有显微镜的精密离子减薄设备中进行离子减薄；本发明具有能够有效的防止薄膜减薄过渡或薄膜脱落，提高成功率的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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