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一种面向AI芯片平台的分布式自动化软件测试方法及平台

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811285022.1
  • IPC分类号:G06F11/36;G06F9/54
  • 申请日期:
    2018-10-31
  • 申请人:
    中国科学院软件研究所
著录项信息
专利名称一种面向AI芯片平台的分布式自动化软件测试方法及平台
申请号CN201811285022.1申请日期2018-10-31
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-04-16公开/公告号CN109634843A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6;;;G;0;6;F;9;/;5;4查看分类表>
申请人中国科学院软件研究所申请人地址
北京市海淀区中关村南四街4号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院软件研究所当前权利人中国科学院软件研究所
发明人于佳耕;侯朋朋;卢欣晔;汲如意;苏航
代理机构北京君尚知识产权代理有限公司代理人司立彬
摘要
本发明公开了一种面向AI芯片平台的分布式自动化软件测试方法及平台。该平台可以通过服务器将AI软件测试任务自动化的分发给不同的AI芯片平台客户端计算机去运行,测试完成后将测试结果统一到服务器管理,然后根据需求自动发布环境更新任务并随后向X86客户端发起第二次相同的测试任务,该任务在X86客户端上进行纯软件运行,并统一收集管理第二次的测试结果。当两次测试工作结束后,会自动的对两次的测试结果进行对比分析,并输出分析结果;并且,对前后两次离线模型的改变进行追溯,定位离线模型的结点或者输入导致错误,帮助软件工程师和硬件工程师排查问题。

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