基于图像处理的激光光束参数测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510103291.8
IPC分类号：G01J1/00;G01B21/02
申请日期：
2005-09-23
申请人：
左昉;张建勇

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于图像处理的激光光束参数测量方法
申请号	CN200510103291.8	申请日期	2005-09-23
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-01	公开/公告号	CN1740759
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0;;;G;0;1;B;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人	左昉;张建勇	申请人地址	北京市海淀区北京科技大学信息工程学院测控系变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	左昉,张建勇	当前权利人	左昉,张建勇
发明人	左昉;张建勇
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所	代理人	罗文群

摘要

本发明涉及一种基于图像处理的激光光束参数测量方法，属激光参数测量仪器领域。首先，在待测激光光束的轴向传播方向上任取一点，将该点处的光强分布转换成二维光强分布，并将其转换成数字图像，通过阀值化得到二值化图像，计算上述二值化图像中等光强区域的长、短轴方向角和中心点P0的坐标；根据q其与和数字图像的对应关系，并利用长、短轴方向角和中心点坐标，得到数字图像中沿长、短轴方向上的点集；将点集与待测激光光束轴向传播路径上长、短轴方向上的理想二维光强分布进行拟合，得到待测激光光束参数，并利用其得到长、短轴的半功率发散角和1/e2功率发散角。本发明的测量方法，可测量大功率、大发散角的激光光束，并且测量精度高，测量过程简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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