LTE-V2X外场性能测试场景合格的判断方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201711350899.X
IPC分类号：H04W24/00;H04W4/40;H04W4/70
申请日期：
2017-12-15
申请人：
深圳无线电检测技术研究院;国家无线电监测中心检测中心

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著录项信息

专利名称	LTE-V2X外场性能测试场景合格的判断方法及装置
申请号	CN201711350899.X	申请日期	2017-12-15
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-06-15	公开/公告号	CN108174390A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04W24/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04W 无线通信网络〔2009.01〕 H04W24/00 监督，监控或测试装置〔2009.01〕	IPC分类号	H;0;4;W;2;4;/;0;0;;;H;0;4;W;4;/;4;0;;;H;0;4;W;4;/;7;0查看分类表>
申请人	深圳无线电检测技术研究院;国家无线电监测中心检测中心	申请人地址	广东省深圳市福田区华富街道深南大道1006号国际创新中心E栋变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳无线电检测技术研究院,国家无线电监测中心检测中心	当前权利人	深圳无线电检测技术研究院,国家无线电监测中心检测中心
发明人	杜昊;郭伟斌;许瑞琛;吕玉琦;王筠婷;李晓帆;张莎
代理机构	北京智汇东方知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	康正德;孙晓芳

摘要

本发明提供了一种LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法与装置。其中，LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法包括：响应输入的待测试的外场测试场景的场景类型，获取场景类型下的最小路径损耗值；获取信号源在待测试的外场测试场景的第一预定位置发送的标准调制信号以及接收机在待测试的外场测试场景的第二预定位置接收的信号源数据；根据标准调制信号和信号源数据，获取在待测试的外场测试场景下的实际路径损耗值；判断实际路径损耗值是否大于或等于最小路径损耗值，如果是，则判定待测试的外场测试场景合格，否则，判定待测试的外场测试场景不合格。

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