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光点扫描式光盘存储材料动态测试系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410099144.3
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2004-12-28
  • 申请人:
    中国科学院上海光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称光点扫描式光盘存储材料动态测试系统
申请号CN200410099144.3申请日期2004-12-28
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2005-08-03公开/公告号CN1649001
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人中国科学院上海光学精密机械研究所申请人地址
上海市800-211邮政信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所当前权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人徐文东;周飞
代理机构上海新天专利代理有限公司代理人张泽纯
摘要
一种光点扫描式光盘存储材料动态测试系统,利用声光偏转器控制光的偏转,实现光束的等角速度扫描,利用扫描镜实现入射光的等角速度扫描到等线速度扫描的变换,让光点移动,光盘盘片不动,模拟光盘的存储过程。本发明无需自动调焦和道跟踪,无需采用光盘驱动器所要求的物镜,无需光盘盘片的配合,实现起来较为简单;被测样品可以是一小块,降低了对膜层制备的要求;还能够直观地观察写入和擦除后纪录点的相貌,可以实现光盘存储材料的静态测试以及高速激光扫描显微镜功能。

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