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半导体集成电路、存储装置和错误纠正方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910316896.7
  • IPC分类号:H03M13/29
  • 申请日期:
    2019-04-19
  • 申请人:
    拉碧斯半导体株式会社
著录项信息
专利名称半导体集成电路、存储装置和错误纠正方法
申请号CN201910316896.7申请日期2019-04-19
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-11-01公开/公告号CN110401457A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03M13/29IPC分类号H;0;3;M;1;3;/;2;9查看分类表>
申请人拉碧斯半导体株式会社申请人地址
日本神奈川县横滨市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人拉碧斯半导体株式会社当前权利人拉碧斯半导体株式会社
发明人坂东和彦;宫崎聪司
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人暂无
摘要
本发明涉及半导体集成电路、存储装置和错误纠正方法。提供能够对超出错误纠正电路的纠正能力的位数的错误进行纠正的半导体集成电路。是一种半导体集成电路,进行来自对由数据部分和奇偶校验位构成的数据进行存储的存储器的数据的读出和数据的错误纠正,所述半导体集成电路包括存储器控制器,从存储器读出数据;以及错误纠正控制器,具有有规定位数的纠正能力的错误纠正电路,进行读出的数据的错误纠正。错误纠正控制器对读出的数据进行利用错误纠正电路的错误纠正,基于错误纠正后的数据的数据部分和奇偶校验位来判定是否纠正了数据所包括的错误的全部,在判定为未纠正错误的全部的情况下,使数据的各位的数据值依次反转来执行利用错误纠正电路的错误纠正。

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