自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110220728.1
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04;G06F11/267;G05B19/04
申请日期：
2011-08-03
申请人：
纬创资通股份有限公司;纬创资通（昆山）有限公司

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著录项信息

专利名称	自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法
申请号	CN201110220728.1	申请日期	2011-08-03
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-06	公开/公告号	CN102914704A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6;7;;;G;0;5;B;1;9;/;0;4查看分类表>
申请人	纬创资通股份有限公司;纬创资通（昆山）有限公司	申请人地址	中国台湾新北市汐止区新台五路一段88号21楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	纬创资通股份有限公司,纬创资通（昆山）有限公司	当前权利人	纬创资通股份有限公司,纬创资通（昆山）有限公司
发明人	吴仕平;王昌浩
代理机构	北京嘉和天工知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	严慎

摘要

本发明涉及一种自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法。该自动测试装置接收一控制信号以测试一待测装置的一连接端口的耐久度，该自动测试装置包括：一测试平台、一测试单元以及一动力控制单元；该测试平台用以设置该待测装置；该测试单元包括：一主体、一组装单元以及一高度调节单元；该组装单元接触于该主体，用以安装一测试接头，该测试接头配合该连接端口的规格；该高度调节单元连接于该主体并与该组装单元互相配合以调整该组装单元的一高度；该动力控制单元连接于该测试单元，该动力控制单元在接收该控制信号后，驱动该测试单元以藉由该测试接头对该连接端口进行测试。本发明可完全自动化地测试待测装置，且易于调整。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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