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一种用于测试透明陶瓷块状材料全透过率的装置和测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010152378.5
  • IPC分类号:G01N21/59
  • 申请日期:
    2010-04-20
  • 申请人:
    中国科学院上海硅酸盐研究所
著录项信息
专利名称一种用于测试透明陶瓷块状材料全透过率的装置和测试方法
申请号CN201010152378.5申请日期2010-04-20
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2011-11-09公开/公告号CN102235974A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/59IPC分类号G01N21/59查看分类表>
申请人中国科学院上海硅酸盐研究所申请人地址
上海市长宁区定西路12*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海硅酸盐研究所当前权利人中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人魏晨阳;冯涛;黄为民;施剑林;崔方明
代理机构上海光华专利事务所代理人许亦琳;余明伟
摘要
本发明属于材料光学性能测试领域,具体涉及一种用于测试透明陶瓷块状材料全透过率的装置和测试方法。本发明的测试装置包括包括:光学平台、光源、分束镜、探测器A、反射镜、积分球、支架、探测器B;其中,所述积分球的底部设有入光口,积分球的一侧设有出光口,且所述积分球通过出光口与探测器B固定连接;所述出光口依次与反射镜和分束镜固定连接,所述分束镜还分别于光源和探测器A固定连接;所述积分球、探测器B、探测器A、反射镜和分束镜通过支架与光学平台固定连接。本发明的测试装置通过积分球收集透射光,利用两探测器关系抵消积分球透过率与光源能量波动的影响,可以方便测得样品在当前波长下的全透过率。

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