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输送装置和具有它的受检体分析系统、受检体前处理装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202080016367.6
  • IPC分类号:H02K41/02;B65G54/02;G01N35/04;H02K41/03
  • 申请日期:
    2020-01-14
  • 申请人:
    株式会社日立高新技术
著录项信息
专利名称输送装置和具有它的受检体分析系统、受检体前处理装置
申请号CN202080016367.6申请日期2020-01-14
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-10-01公开/公告号CN113474980A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H02K41/02IPC分类号H;0;2;K;4;1;/;0;2;;;B;6;5;G;5;4;/;0;2;;;G;0;1;N;3;5;/;0;4;;;H;0;2;K;4;1;/;0;3查看分类表>
申请人株式会社日立高新技术申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社日立高新技术当前权利人株式会社日立高新技术
发明人青山康明;星辽佑;小林启之;玉腰武司;金子悟;渡边洋;神原克宏;鬼泽邦昭
代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司代理人龙淳
摘要
在本发明中,输送装置(1)具有设置在受检体架(111)一侧的永磁体(10)、由第二磁性体构成的齿(22)和卷绕在齿(22)的外周侧的绕组(21),在齿(22)中,与永磁体(10)相对的部分的截面的截面积大于其他部分的截面的截面积。或者,具有设置在受检体架(111)一侧的永磁体(10)、由第二磁性体构成的齿(22)和卷绕在齿(22)的外周侧的绕组(21),永磁体(10)与绕组(21)的间隔Lc、以及永磁体(10)与齿(22)的间隔Lt满足Lc>Lt的关系。

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